中華人民共和國國家標準(中國大陸GB標準)英文版 |
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GB標準是中華人民共和國國家標準，也叫GB國標，是中國大陸強制執行的國家標準，所有中國大陸境內銷售的商品及提供服務都必須符合GB國家標準的要求，包括進口商品及服務； 本網站提供GB國家標準的查詢檢索，英文版翻譯，GB標準產品檢測檢驗及合規性分析服務； |
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GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法（中英文版） Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method |
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GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法（中英文版） Test method for dislocation density of silicon carbide single crystal |
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GB/T 41751-2022 氮化镓单晶衬底片晶面曲率半径测试方法（中英文版） Test method for radius of curvature of crystal surface of gallium nitride single crystal substrate |
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GB/T 1551-2021 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法（中英文版） Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon—In-line four-point probe and direct current two-point probe method |
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GB/T 9966.17-2021 天然石材试验方法 第17部分：盐结晶强度的测定（中英文版） Test methods for natural stone-Part 17:Determination of resistance to salt crystallization |
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GB/T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法（中英文版） Test method for dislocation density of monocrystal gallium arsenide |
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GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法（中英文版） Test method for dislocation density of monocrystal germanium |
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GB/T 37983-2019 晶体材料X射线衍射仪旋转定向测试方法（中英文版） Testing methods of X-ray diffraction for determining the orientation of crystal materials by rotation |
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GB/T 4059-2018 硅多晶气氛区熔基磷检验方法（中英文版） Test method for phosphorus content in polycrystalline silicon by zone-melting method under controlled atmosphere |
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GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法（中英文版） Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method |
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GB/T 4060-2018 硅多晶真空区熔基硼检验方法（中英文版） Test method for boron content in polycrystalline silicon by vacuum zone-melting method |
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GB/T 37240-2018 晶体硅光伏组件盖板玻璃透光性能测试评价方法（中英文版） Test and evaluation methods for light transmission property of cover glass for crystalline silicon photovoltaic module |
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GB/T 34481-2017 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法（中英文版） Test method for measuring etch pit density (EPD) in low dislocation density monocrystalline germanium slices |
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GB/T 14142-2017 硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法（中英文版） Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon—Etching technique |
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GB/T 34210-2017 蓝宝石单晶晶向测定方法（中英文版） Test method for determining the orientation of sapphire single crystal |
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GB/T 33763-2017 蓝宝石单晶位错密度测量方法（中英文版） Test method for dislocation density of sapphire single crystal |
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GB/T 35118-2017 掺铒钇铝石榴石激光晶体光学性能测量方法（中英文版） Test methods of optical performance for Erbium-doped Yttrium Aluminum Garnet laser crystal |
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GB/T 35306-2017 硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法（中英文版） Test method for carbon and oxygen content of single crystal silicon—Low temperature fourier transform infrared spectrometry |
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QB/T 5010-2016 冰糖试验方法（中英文版） (Test method for crystal sugar) |
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GB/T 32278-2015 碳化硅单晶片平整度测试方法（中英文版） Test methods for flatness of monocrystalline silicon carbide wafers |
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